工業(yè)內窺鏡測量缺陷的注意事項
工業(yè)內窺鏡檢測的目的是發(fā)現(xiàn)缺陷并及做出正確處理決策，但有時僅僅發(fā)現(xiàn)缺陷還不夠，缺陷的嚴重程度也是決策的重要因素，特別是對于一些處于臨界狀態(tài)的缺陷，當依賴主觀經(jīng)驗并不可靠時，缺陷測量功能帶來的定量分析能力，讓檢測決策更靠譜。本文介紹工業(yè)內窺鏡測量缺陷的注意事項。
由于缺陷測量方法有多種，有的存在一些操作方面的要求，因此要額外關注測量缺陷時的注意事項，例如：采用投射陰影線的陰影測量法，注意被測物表面應盡可能與探頭垂直；雙物鏡測量法沒有上述垂直要求，但是要注意觀察和測量所用鏡頭不同，需要更換鏡頭，此外還需避免出現(xiàn)點漂移引入的人為誤差，以免影響測量精度。
韋林百萬高清工業(yè)內窺鏡搭載的單物鏡相位掃描三維立體測量技術，是目前先進的工業(yè)內窺鏡測量技術，很好地解決了上述測量技術的弊端，優(yōu)勢包括：基于光柵主動投射技術，無需探頭垂直或接觸被測物體表面；整個檢測過程無需進行鏡頭的更換和缺陷的重新定位；3D點云模型的重建，降低了人為因素可能導致的誤差，測量更為精準。
下面列舉一些測量缺陷的注意事項及操作技巧：
1. 抓取測量圖片時讓探頭與被測表面保持約3秒鐘左右的相對靜止；
2. 針對高反光的區(qū)域抓取圖像時，要選擇到合適的角度，例如：45°角，避免90°直射，以降低反光對光柵掃描產(chǎn)生的影響，尤其是針對壓氣機葉片等高反光部件，盡量避免直視，盡可能選擇一定的角度進行拍攝；
3. 為了保證精度，相位掃描三維立體測量系統(tǒng)在精度下降區(qū)域顯示為黃色，如條件允許盡量避免在黃色區(qū)域進行測量操作；
4. 保持測量鏡頭端部相位光柵區(qū)域的清潔，不被沾污，防止影響掃描結果，進而影響測量精度；
5. 由于系統(tǒng)掃描完成之后需要進行數(shù)學模型的重構，進行大量的數(shù)據(jù)運算，此時請耐心等待約1到2秒鐘的時間；
6. 測量時，MTD值即物距顯示，通常不超過25mm，以保證測量的準確度。
關于工業(yè)內窺鏡測量缺陷的注意事項先給您介紹到這里，關于各種測量技術的詳情，您可以閱讀以下推薦的文章。上圖是使用韋林單物鏡相位掃描三維立體測量技術測量缺陷的示意圖，該測量技術在測量鏡頭的視野角度及焦距、3D數(shù)字點云立體建模測量分析功能、測量模式、以及與3D打印技術相融合等方面，都有不俗的創(chuàng)新或明顯的改善，讓檢測流程更流暢，測量手段更多樣化，結果更精準可靠，有效提高了內窺鏡檢測的效率及質量。
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